X射线衍射分析是利用晶体形成的X射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。掠入射X射线衍射(GIXRD)是专门用来测试薄膜样品的手段。测试光是平行光,相对于常规的衍射光来说能量较小,因此掠入射测试XRD的谱图绝对峰强相对较弱。但是平行光可以更好的关注薄膜表面的信息,也不容易测到基底,因此掠入射XRD专门用于测试薄膜样品。
为更好的满足广大师生的测试需求,分析测试中心物性与表面分室将于2022年10月14日,在分析测试中心312室举办X射线衍射仪掠入射测试的理论及基本操作培训。
现将有关事宜通知如下:
一、培训目标:
通过理论知识的学习及实际上机操作,了解XRD的基本原理,掌握布鲁克D8 ADVANCE X射线衍射仪的基本测试方法。
二、培训安排:
时间 |
内容 |
培训地点及注意事项 |
10月14日 9:00—12:00 |
理论培训:X射线衍射的基本原理、掠入射测试技术特点和注意事项 操作培训:掠入射测试 本次培训10人 |
分析测试中心 312室 |
三、主讲人:白杰,物性与表面分室,从事热分析与X射线分析技术研究。
四、培训费用:校内用户免费。
五、报名方式及时间:
(一)报名方式:电话:15920442455(微信同号),QQ:81475836,邮箱:baijie6@gdut.edu.cn
(二)报名时间:2022年10月11日-10月13日
六、联系
联系人:白老师,电话:15920442455
七、设备简介
D8 ADVANCE X射线衍射仪是布鲁克公司高性能X射线衍射仪,具有最高的实验灵活性,方便的样品操作空间和样品可视性。该系统采用了高度模块化的工业设计,用于多种应用和样品类型,该系统可在两种不同的光束几何之间进行自动切换。
性能指标:1、光管:Cu靶; 2、焦斑:线焦斑0.04 mm×12 mm; 3、测角仪:θ/θ、立式、准确度0.005°、角度重复性0.0001°; 4、双光路系统:平行光/聚焦光全自动切换,光路切换精度优于±0.0025°;入射光路可变狭缝开口0.05~1°,样品照射宽度1~20 mm ; 5、LYNXEYE XE-T探测器:高分辩能量色散阵列探测器,能量分辨率<380 eV;具有零维、一维、二维三种测量模式;最大计数:≥1×109CPS、线性范围:≥1×108CPS; 6、测角角度偏差:≤±0.01°。